JB_T 10037-2012 磁栅线位移测量系统
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ID： |
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文件大小(MB)： |
0.86 |
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13 |
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日期： |
2024-8-14 |
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ICS 17.040.30,J 42,备案号:36493—2012,中华人民共和国机械行业标准,JB/T 10037—2012,代替 JB/T 10037—1999,磁栅线位移测量系统,Magnetic-grid linear displacement measuring system,2012-05-24 发布2012-11-01 实施,中华人民共和国工业和信息化部发布,ハペ.,JB/T 10037—2012,目 次,前言 II, 范围. 1,2规范性引用文件.. 1,3术语和定义 1,4基本参数.. 2,5 要求. 2,5.I 准确度 2,5.2 细分误差. 3,5.3 基本功能. 3,5.4 外观及结构性能. 3,5.5 防护等级（EP） ..3,5.6 抗干扰能力.. 3,5.7 电气安全性能 4,5.8 环境适应性.. 4,5.9 连续运行试验 5,6试验与检验方法..5,6.1 试验条件. 5,6.2 试验项目及方法. 6,7检验规则.. 7,7.1 出厂检验. 7,7.2 型式检验. 7,7.3 判定规则. 7,8标志与包装 7,8.1 标志7,8.2 包装.. 8,附录A （规范性附录）检验项目及重要度9,I,JB/T 10037—2012,-LX- —1—,刖 百,本标准按照GB/T 1.1—2009给出的规则起草,本标准代替JB/T 10037—1999《磁栅线位移测量系统》,与田“10037—1999相比主要技术变化如下:,——增加并更新了 “引用标准”的内容（本版的第2章,1999年版的第2章）；,——增加了 “术语和定义”的内容（本版的第3章,1999年版的第3章）；,——增加并更新了 “基本参数”的内容（本版的第4章,1999年版的第4章）；,——增加了 “细分误差”指标和试验方法（本版的4.4、1024）；,——增加并更新了 “要求”的内容（本版的第6章,1999年版的第5章）；,——增加了 “防护等级”指标（本版的6.3）；,——增加并更新了 “抗干扰能力”的内容（本版的6.4, 1999年版的5.9）；,——增加了 “连续运行试验”指标（本版的第9章）；,——取消了 “MTBF”项（1999年版的5.10.2）；,——修改了 “试验方法”的内容（本版的第10章,1999年版的第6章）；,——修改了 “检验规则”的内容（本版的第11章,：1999年版的第6章）；,——增加了 “判定规则”指标（本版的11.3）；,一修改了 “标志与包装”的内容（本版的第12章,：1999年版的第7章）；,——修改了部分文字的叙述,本标准由中国机械工业联合会提出,本标准由全国量具量仪标准化技术委员会（SAC/TC132）归ロ,本标准负责起草单位:深圳市博望精密仪器有限公司,本标准参加起草单位:上海平信机电制造有限公司、广州市诺信数字测控设备有限公司、贵阳新豪,光电有限公司,本标准主要起草人：腾廟、肖林强、张健庭、沈烈、刘广黔,本标准所代替标准的历次版本发布情况为：,——ZB J42 033—1989；,——JB/T 10037—1999〇,II,JB/T 10037—2012,磁栅线位移测量系统,1范围,本标准规定了磁栅线位移测量系统的术语和定义、基本参数、要求、试验与检验方法、检验规则、,标志与包装等,本标准适用于机床、仪器的坐标线位移测量系统（以下简称“测量系统”）,2规范性引用文件,下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件,凡是不注日期的引用文件,其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件,GB/T 191—2008 イョ装储运图示标志,GB/T 2423.1—2008 电エ电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温,GB/T 2423.2—2008 电エ电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B：高温,GB/T 2423.3—2006 电エ电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Cab:恒定湿热试验,GB/T 2423.5—1995 电エ电子产品环境试验第二部分:试验方法试验Ea和导则:冲击,GB/T 2423.10—2008电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Fc:振动（正弦）,GB 4208—2008 外壳防护等级（IP代码）,GB/T 4365—2003电エ术语电磁兼容,GB/T 4879—1999 防锈包装,GB/T 5048—1999 防潮包装,GB 5226.1—2008 机械电气安全机械电气设备第1部分：通用技术条件,GB/T 6388—1986运输包装收发货标志,GB/T 6587.8—1986电子测量仪器电源频率与电压试验,GB/T 9969—2008エ业产品使用说明书总则,GB/T 13384—2008机电产品包装通用技术条件,GB/T 14436—1993エ业产品保证文件总则,GB/T 17626.2--2006 电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验,GB/T 17626.4--2008 电磁兼容试验和测量技术电快速瞬变脉冲群抗扰度试验,GB/T 17626.5--2008 电磁兼容试验和测量技术浪涌（冲击）抗扰度试验,GB/T 17626.11-—2008 电磁兼容试验和测量技术电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验,3术语和定义,下列术语和定义适用于本文件,3.1,磁栅线位移测量系统 magnetic-grid linear displacement measuring system,由磁栅线位移传感器感受线位移量,并用磁栅数字显示仪显示其长度的测量系统,……
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